半導體超微量分析服務ULTRA TRACE ANALYSIS SERVICE OF SEMICONDUCTOR
半導體超微量分析服務 (Ultra Trace Analysis Service of Semiconductor) 專注於半導體及其相關產業鏈之所需化學品原物料進料檢驗、製程設備系統、以及硬體設備之潔淨測試服務，以期協助顧客有效掌控製程良率，降低製程污染之風險並提升產品品質為最終目標。
服務項目
原物料品檢驗
廠務系統品質監控
廠房與設備確認
安全與衛生服務
焦點服務介紹
ISO 14644-14 通過模擬釋放顆粒的動態分析評估潔淨室的適用性
ISO 14644-14 for Assessment of Cleanroom Suitability by Imitate Dynamic Analysis of Particles Released
ISO 16232零部件清潔度標準
ISO 16232 Standard for Components and Parts Cleanliness
半導體超微量分析服務〈台北〉
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+886 2 2299 3279 分機7317
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+886 2 2298 1338
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24890 新北市五股區(新北產業園區)五權七路38號 
半導體超微量分析服務〈竹科〉
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+886 3 667 3956
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30272 新竹縣竹北市文興路一段286號
半導體超微量分析服務〈專案〉
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24886 新北市五股區(新北產業園區)五工路125號
半導體超微量分析服務〈功能性〉
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24890 新北市五股區(新北產業園區)五權七路38號
半導體超微量分析服務〈氣體〉
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30272 新竹縣竹北市文興路一段286號