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2021/08/27

車用半導體可靠度技術-Soft Error Rate 課程

隨著汽車電子蓬勃發展,因應車用電子元件可靠度要求, Soft Error Rate 量化估計方法已逐漸受到重視,而如何在ISO26262功能安全標準中對半導體IC考慮暫態失效(Transient Fault),對台灣半導體公司也是一巨大挑戰。此訓練課程將使學員了解暫態失效的發生原理,以及如何透過測試設計來精確獲得此數據,最終能透過可靠度設計方法,以提升元件對粒子輻射的強健性。

車用半導體可靠度技術-Soft Error Rate 課程

 課程大綱 

■  The Soft Error testing in JEDEC 89A

■  The requirement of soft error in ISO  26262 standard.

■  Why radiation is important to electronics and the terrestrial environment

■  Various radiations that are important to electronics

■  Artificial radiation environment

■  Various terms and explanation used in the study of radiation on electronics

■  Radiation effect on semiconductor devices (CMOS and Bipolar devices):  TID, DD and SEE

■  Digital and Analog SEE

■  Critical charge for electronics circuit for radiation interruption and its computation

■  Computation of SEE Rate and TID Tolerance

■  Standards and References

 

 培訓受益 

■  協助學員了解汽車電子對暫態失效原理與測試方法

■  協助學員了解暫態失效與ISO 26262 關係

■  協助學員了解可靠度設計方法,以提升元件對粒子輻射的強健性。

 

 培育對象 

■  汽車電子半導體、硬體、可靠度工程師

 

 講師介紹 

■  長庚大學可靠度科學技術中心主任 陳始明教授

■  SGS 功能安全專家 張國樑 技術經理

■  SGS 功能安全專家 黃立仁博士

 

 訓練時程 

■  訓練日期:2021/9/28(二),9:30a.m.~ 4:00p.m.

■  授課地點:SGS半導體產業訓練中心;新竹縣竹北市嘉豐十一路一段100號5F-9

 

 訓練費用 

■  活動費用原價每人NT$10,000.-/未稅。

■  於8/31(二)前報名,享早鳥優惠價每人NT$8,000.-/未稅,名額有限,額滿即截止。

 

索取課程DM報名表及聯絡窗口:

Reliability Laboratory: Cindy Hung 02-2299-3279#3661;E-mail:  tw.fs@sgs.com

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