2020/10/08

半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析

Functional safety in semiconductor - SEooC development and failure rate analysis

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線上免費研討會| 2020/10/26

Taipei Local Time 10:00 AM

 

半導體功能安全 - SEooC開發及失效率分析

Functional safety in semiconductor - SEooC development and failure rate analysis

 

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Background:背景

在現階段車用領域方面,車輛控制系統電子化已成為汽車發展之趨勢,在電子系統越來越多,越來越複雜的情況下,車輛安全控制系統也逐漸朝向自動化及高科技化,因此關鍵安全系統及資訊安全的設計議題在汽車領域已慢慢被重視。藉由汽車領域之國際功能安全規範ISO-26262及資安標準ISO/SAE21434的發怖,透過嚴謹的風險評估及V模型設計觀念使其安全需求等級提出一致性的分析結果,統籌電子系統整個生命週期所需考慮到避免及控制失效的技術與管理要求,最後透過定性與定量之安全設計機制與技術驗證(Verification)及確認(Validation)規範,以符合達到功能安全及資訊安全規範等級。

Agenda: 議程

Topic 1 (English) Functional safety market trend in semiconductor

  • How to assume top hazard, SG, FSR, TSR against target system
  • How to derive and determine IC’s or IP’s functional safety requirements(HSR) based on assumptions
  • Q&A

Topic 2 (Chinese)如何透過失效率手冊查詢半討體元件失效率

  • IEC 61709 介紹
  • 可靠度預估手法
  • Q&A

需要進一步的資訊,請聯絡SGS可靠度實驗室功能安全團隊:

Betty Yang: Betty.Yang@sgs.com分機:3660
Cindy Hung:Cindy.Hung@sgs.com 分機:3661